影像测量仪应用之半导体芯片微小尺寸精密检测方案

近年来，随着贸易战竞争愈演愈烈，大量投资涌入半导体行业，企业面对这一现状，愈是要通过影像测量仪等精密仪器严苛把控半导体微小尺寸的检测，做好产品品质，才能在大浪淘沙中存留。

为了满足半导体客户高品质测量要求，七海推出Optiv Reference高精度影像仪高精度大行程光学测量方案解决微小尺寸的高精度测量需求，助力客户在该产业领域的研发实力。

Optiv Reference高精度影像仪是七海影像测量仪中的“佼佼者”，测量精度一马当先，传感器丰富，所有轴上都有空气轴承，测量精度在亚微米范围内，机器可以配备革命性的OPTIV双Z轴设计，通过在两个独立的垂直轴上安装触发和发光传感器，减少设置和检查时间。

通过不断验证完成后，影像团队对设备方案进行调整，整合集团全球资源。推荐的高精度Optiv Reference 10103（E1=0.3+L/600μm ；E2=0.6+L/600μm）影像测量仪最终得到客户的认可，并确认采购Optiv Reference复合式影像测量仪。客户表示：“在短时间内完成设备评估，超出了我的预期，我对七海的设备有了更高标准的认知，是可信赖的合作伙伴！”

通过采用旗下Optiv Reference高精度复合式影像测量仪来进行尺寸测量验证，进一步提升了客户在研发阶段对微小尺寸测量的可靠性，助力公司在行业内形成标杆。同时也增加了七海对各行业检测难点深入研究的案例。